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Global Process Control :

L’innovation au service de la qualité et de la productivité

GPC

Un nouveau regard sur vos données de production

La qualité des produits

passe par la performance des process

les concepts

Global Process Control

Apprendre vos données pour surveiller votre process

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Le Global Process Control offre des réponses exclusives à vos préoccupations d’industriel : qualité, productivité, profit.

Pourquoi choisir GPC ?

Le Global Process Control (GPC) est une extension de la technique MSP (Maîtrise Statistique des Procédés)  au cas de plusieurs variables.

Ses fonctionnalités dépassent largement la surveillance.
Le GPC permet l’optimisation du fonctionnement de process ou d’équipements.

Clients et partenaires

« La méthode GPC proposée par M. LAFAYE DE MICHEAUX me semble posséder les avantages des techniques multivariées tout en évitant les écueils… »

Jacques DEMONSANTChef du Groupe Statistiques et Optimisation - Renault

« L’industrie des semi-conducteurs et ses applications dérivées, dans laquelle Si Automation évolue aujourd’hui dans un contexte international, représente d’ores et déjà un champ d’investigations privilégiées pour GPC. »

Richard MOUSTIESPrésident du Directoire - Si Automation

« Le suivi par méthodes multivariées me semble très intéressant et les récents développements me confortent en ce sens. D’autre part, l’ergonomie des résultats est en phase avec le besoin de nos opérationnels. »

David LOPESMéthodes et Outils Statistiques, Direction Organes - PSA Peugeot Citroen

« Le GPC développé par Mr Daniel LAFAYE DE MICHEAUX permet d’aller encore plus loin en identifiant la signature des hors contrôle par un mode d’apprentissage permanent. »

François PASQUALINISCP manager - STMicroelectronics SA

« La méthode GPC constitue un ensemble cohérent d’indicateurs pour détecter et décrire les effets des anomalies de fonctionnement du procédé. »

Georges KOPFFContrôle et Analyse de la Qualité - FBFC - FRAMATOME ANP

« Il est possible de prévenir la réapparition d’un défaut déjà observé par la simple création d’une carte spécifique à ce défaut, action impossible avec les cartes de contrôle classiques. »

Dominique VAILHENDirection de la sûreté nucléaire et de la qualité - CEA